PDF
E-book
Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007
Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
Opis
W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry. Rozwój technologiczny wymusza w metrologii konieczność pomiaru chropowatości o wysokościach mieszczących się w skali nano. Coraz częściej potrzebne jest uzyskanie nie tylko parametrów 2D, ale także obrazu powierzchni.
Szczegóły
| Autor | Praca zbiorowa |
|---|---|
| Wydawca | Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej |
| Formaty | |
| Liczba stron | 188 |
Na czym przeczytasz
Czytniki: Kindle, PocketBook, inkBOOK, Onyx Boox i inne. Telefony i tablety: dowolna aplikacja do EPUB (Apple Książki, Google Play Książki, Moon+ Reader). Komputery: Calibre, Thorium Reader. Bez dodatkowych kont i aplikacji. Zobacz poradnik
